時(shí)間參量校準(zhǔn)方法?

采用光柵時(shí)標(biāo)發(fā)生器（分辨率1μs）配合高速數(shù)據(jù)采集卡，重點(diǎn)校準(zhǔn)合閘不同期性、彈跳時(shí)間等關(guān)鍵參數(shù)。最新校準(zhǔn)規(guī)程新增真空斷路器預(yù)擊穿時(shí)間測(cè)試項(xiàng)。

?動(dòng)態(tài)電阻測(cè)量創(chuàng)新?

引入高頻注入法（1kHz/20A），可同步測(cè)量：

主觸頭接觸電阻

弧觸頭磨損狀態(tài)

并聯(lián)電容效能